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溫濕度試驗箱設(shè)備可以準確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕復雜的自然狀環(huán)境，適用于塑膠、電子、食品、服裝、車輛、金屬、化學、建材等多種行業(yè)的產(chǎn)品可靠性檢測。
在自然氣候中，溫度（ Temperature ）與濕度（ Humidity ）是無法分離的環(huán)境條件，而此環(huán)境條件往往隨地理位置不同而出現(xiàn)氣候條件不同，中國臺灣屬海島型氣候，終年濕度偏高，但大陸型氣候則日夜變化極大，根據(jù)IEC60721之氣候調(diào)查得知，無論地理位置如何不同，在溫度與濕度環(huán)境上均存在著四種組合狀態(tài)：包括高溫/低濕（High Temp./Low Humidity）、高溫/高濕（High Temp./High Humidity）、低溫/高濕（low Temp./High Humidity）與低溫/低濕（Low Temp./Low Humidity），在IEC60721與ETSI 300 019歐洲通訊設(shè)備環(huán)境試驗規(guī)范中均有明確之溫濕度氣候圖使用建議與其等級區(qū)分。溫濕度試驗設(shè)備對各種材料的試驗，針對電子行業(yè)做溫濕度測試的必要性華威儀器做一下分析：
首先，電子產(chǎn)品的復雜程度在不斷增加。人們zui早使用的礦石收音機是非常簡單的，隨之先后出現(xiàn)了各種類型的收音機、錄音機、錄放相機、通訊機、雷達、制導系統(tǒng)、電子計算機以及宇航控制設(shè)備，復雜程度不斷地增長。電子產(chǎn)品復雜程度的顯著標志是所需元器件數(shù)量的多少。而電子產(chǎn)品的可靠性決定于所用元器件的可靠性，因為電子產(chǎn)品中的任何一個元器件、任何一個焊點發(fā)生故障都將導致系統(tǒng)發(fā)生故障。一般說來，電子產(chǎn)品所用的元器件數(shù)量越多，其可靠性問題就越嚴重，為保證產(chǎn)品或系統(tǒng)能可靠地工作，對元器件可靠性的要求就非常高、非常苛刻。
其次，電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴酷。從實驗室到野外，從熱帶到寒帶，從陸地到深海，從高空到宇宙空間，經(jīng)受著不同的環(huán)境條件，除溫度、濕度影響外，海水、鹽霧、沖擊、振動、宇宙粒子、各種輻射等對電子元器件的影響，導致產(chǎn)品失效的可能性增大。
第三，電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從*代電子管產(chǎn)品進入第二代晶體管，現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路進入到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，電子產(chǎn)品正朝小型化、微型化方向發(fā)展，其結(jié)果導致裝置密度的不斷增加，從而使內(nèi)部溫升增高，散熱條件惡化。而電子元器件將隨環(huán)境溫度的增高，降低其可靠性，因而元器件的可靠性引起人們的極大重視
所以溫濕度環(huán)境測試設(shè)備是電子行業(yè)必須購買的試驗設(shè)備：如恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱等